是德keysight N1169A-003 覆蓋擴展技術 覆蓋擴展技術（CET）是 VTEP 和邊界掃描的混合技術。它結合了 VTEP 和邊界掃描的優點，并增強了是德在線測試系統的總體功能。

是德keysight Silicon nail測試技術 Silicon nail支持用戶將有邊界掃描功能的器件作為驅動器/接收機使用，來測試非邊界掃描器件。由此獲得的直接結果是現在不再需要測點或測試探針。事實上，驅動器/接收機現在像基于硅的測試探針一樣發揮作用，因此稱為“Silicon nail”。

是德keysight Bead probe焊珠探頭技術 是德*響應客戶的需求，針對當今流/行的印刷電路板（PCB）提供更出色的測試點接入能力。Keysight Medalist 焊珠探頭技術能夠指/定將測試目標或焊珠探頭直接放置到銅信號走線上的方式，幾乎能在電路板版圖的任何位置提供測試接入點，具有卓/越的測試范圍。